EyeVision erweitert sein Funktionsspektrum um die Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometer-Sensoren für submikrometergenaue Höhenmessung. Anwender generieren dichte 3D-Punktwolken und präzise Höhenkarten, die sich nahtlos mit 2D- und 3D-Analysewerkzeugen, KI-Modulen sowie Code-Lesefunktionalitäten vereinen lassen. Das hochdynamische Weißlichtintegrierte Profiling liefert reproduzierbare Oberflächenvermessungen. Dank einer hardwareunabhängigen Softwarearchitektur und eines grafischen Drag-and-Drop-Editors wird die Implementierung beschleunigt und die Qualitätssicherung in der automatisierten Fertigung deutlich optimiert. So lassen sich Messroutinen flexibel konfigurieren, Kalibrierungen automatisieren und Datenanalysen auswerten.
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H8/H8M Sensoren liefern submikrometergenaue Höhendaten direkt in EyeVision integriert
Mit der neuen Schnittstelle lassen sich submikrometergenaue Höhenmessungen der Heliotis H8/H8M Sensoren direkt in EyeVision integrieren, wodurch Anwender die erfassten Daten gleichzeitig mit 2D-, 3D-, KI-analytischen und Code-Lese-Modulen auswerten können. Die Integration erfolgt dabei über die Benutzeroberfläche von EyeVision, die einen konsistenten Workflow für Datenaggregation, Visualisierung und Automatisierung bereitstellt. Dank dieser Erweiterung werden Prüf-, Mess- und Qualitätskontrollabläufe optimiert, was Zeitaufwand senkt und Prozesssicherheit erhöht. Gleichzeitig bleibt die Plattform hardwareunabhängig.
Feinstrukturen und winzige Abweichungen im Submikrometerbereich eindeutig erkennen bewerten
Die submikrometergenaue Höhenmessung des H8-Systems stellt Planaritätsunterschiede und Mikrodefekte auf Oberflächen mit höchster Präzision dar. Feine Strukturen und winzige Abweichungen werden störungsfrei registriert, sodass Industrieanwender ihre Produkte detailliert prüfen können. Die generierten Höhendaten bieten exakte Informationen für die Optimierung von Bearbeitungsprozessen und die Einhaltung strenger Qualitätsnormen. Selbst komplexe Geometrien lassen sich mit dieser Technologie zuverlässig und reproduzierbar analysieren, was die Effizienz in Fertigung und Inspektion steigert. Die Technik verbessert Nachverfolgbarkeit.
Feinste Höhenunterschiede erfasst durch hochdynamische WLI des H8 Sensors
Mit dem H8-Interferometer und seiner hochdynamischen Weißlichttechnik lassen sich feinste Mikrometerabweichungen von Oberflächenstrukturen präzise messen. Jede Scanzeile erzeugt wiederholbare Höhenprofile, die in Echtzeit analysiert und visualisiert werden können. Dieses System gewährleistet eine lückenlose Dokumentation und fördert schnelle Entscheidungen bei Qualitätsprüfungen. Die konsistenten Ergebnisse steigern die Prozesssicherheit und reduzieren Ausschussraten. Dadurch gewinnen Hersteller mehr Transparenz in Fertigungsabläufen und können Produktqualität deutlich erhöhen sowie automatisierte Regelkreise und Datenauswertung für optimierte Produktionssteuerung nutzen.
Umfassende Analysefunktionen wie Kantenerkennung und Profilvergleich ohne zusätzliche Konfiguration
Nach der Aufnahme und Visualisierung werden die 3D-Punktwolken sowie detaillierten Höhenkarten automatisch an die Auswertemodule von EyeVision übermittelt. In dieser zentralen Umgebung stehen ohne Wartezeiten Funktionen zur Flächen- und Volumenmessung bereit. Mittels fortschrittlicher Kantenerkennungs-Algorithmen lassen sich präzise Konturmerkmale extrahieren, während Vergleichsprofile Abweichungen zwischen Soll- und Ist-Daten erfassen. So wird die Validierung von Geometrien standardisiert und mit hoher Wiederholgenauigkeit automatisierbar. Dieser Prozess agiert automatisch und optimiert die Reproduzierbarkeit sowie Messgenauigkeit dauerhaft.
3D H8 H8M Sensorintegration in EyeVision liefert submikrometergenaue Höhendaten
Die skalierbare Softwarearchitektur von EyeVision ist vollkommen hardwareunabhängig und ermöglicht die Einbindung unterschiedlichster Bildaufnahmesysteme. Anwender profitieren von der flexiblen Integration hochpräziser Heliotis H8/H8M 3D-Sensoren ebenso wie von Zeilen- und 2D-Kameras für herkömmliche Inspektionsaufgaben. Zusätzliche Funktionalitäten bieten Wärmebild- und Hyperspektralkameras sowie Smart-Kameras zur automatischen Fehlererkennung. Über standardisierte Treiber lassen sich Erweiterungsmodule einfach installieren. Die modulare Struktur gewährleistet bei wachsenden Projektanforderungen schnellen und kosteneffizienten Systemausbau. Zusätzliche Sensoroptionen lassen sich ohne Unterbrechung einspielen.
Drag-and-Drop-Workflow erlaubt schnelle Zusammensetzung komplexer Messketten mit integrierten Oberflächenanalysewerkzeugen
Der Drag-and-Drop-basierte Workflow-Editor stellt sämtliche Messwerkzeuge in einer einheitlichen Umgebung bereit. Ohne Programmieraufwand lassen sich Algorithmen für Messtechnik, Defekterkennung, Oberflächevaluation und 3D-Punktwolken-Analyse kombinieren. Der modulare Aufbau ermöglicht einfache Erweiterungen und individuelle Anpassungen je nach Applikation. Visuelle Verknüpfungen zeigen den Datenfluss transparent auf und erleichtern Fehlersuche. Durch integriertes Monitoring und Reporting können Nutzer Qualitätskriterien kontinuierlich überwachen. Dadurch beschleunigen Unternehmen ihre automatisierten Inspektionsprozesse signifikant. Benutzer profitieren von intuitiven Einstellungen und reduzierten Einarbeitungszeiten.
EyeVision läuft nahtlos auf Embedded-Systemen sowie Windows und Linux
Die modulare Softwarearchitektur von EyeVision ermöglicht die flexible Skalierung von Grundlageninstallationen bis hin zu komplexen Automatisierungslösungen. Die Plattform lässt sich sowohl auf kompakten Embedded-Controllern als auch auf robusten Windows- und Linux-Arbeitsplätzen betreiben. Über intuitive Konfigurationswerkzeuge können Anwender Mess- und Prüfprozesse an wechselnde Anforderungen anpassen. Erweiterungen, Updates und zusätzliche Sensorintegration erfolgen unkompliziert. Das reduziert Ausfallzeiten und beschleunigt die Einführung neuer Aufgaben in industriellen Produktionsumgebungen nachhaltig. Die Lösung unterstützt effiziente parallele Prozessausführung.
Submikrometergenaue hardwareunabhängige Plattform verbindet 2D, 3D und hochdynamische WLI-Analysen
Mit der Heliotis H8/H8M-Sensorintegration liefert EyeVision fortan submikrometergenaue Höhendaten sowie dichte 3D-Punktwolken für präzise Oberflächeninspektionen. Die Software kombiniert hochdynamisches WLI-Profiling mit bewährten 2D-, 3D- und KI-Tools in einer hardwareunabhängigen Umgebung. Dank intuitivem Workflow-Editor lassen sich Messketten per Drag-and-Drop zusammenstellen und direkt auf Windows- oder Linux-Embedded-Systemen betreiben. Anwender profitieren von reproduzierbaren Profilen, automatisierten Qualitätsprüfungen und flexiblen Auswertungsfunktionen für anspruchsvolle Fertigungsprozesse. Effiziente Inbetriebnahme und skalierbare Automatisierung runden das Paket für moderne Bildverarbeitungsanwendungen ab.
